كيف تتسوق Semiconductor Material and Device Characterization عبر الانترنت من يوباى?

من السهل التسوق في Semiconductor Material and Device Characterization عبر الإنترنت من يوباي. كل ما عليك فعله هو البحث عن المنتج واختيار طريقة الشحن الخاصة بك أثناء الدفع وسيتم توصيله الى عنوانك

هل Semiconductor Material and Device Characterization متوفر للتسوق عبر الإنترنت في UAE؟

نعم ، في يوباي UAE هذا المنتج متاح لك للتسوق بسعر مناسب. Semiconductor Material and Device Characterization غير متوفر محليًا ولكن يمكنك الوثوق بنا بخدماتنا للشحن السريع.

كم من الوقت يستغرق الحصول على المنتج بعد تقديم الطلب؟

يختلف وقت تسليم المنتج الذي طلبته حسب ما طلبته وطريقة الشحن التي اخترتها. يتم ذكر وقت التسليم المقدر أثناء عملية الدفع ، لذا كن مرتاحًا أثناء التسوق.

عرض الأصل

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

منتج #: 21176075

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

85% من المشترين سيوصون بهذا المنتج لصديق

منتج #: 21176075

AED 524

~~AED 1080~~

تفاصيل السعر

باستثناء رسوم الشحن والجمارك ( سيتم احتساب رسوم الشحن والجمارك عند إتمام الشراء )

^{*سيتم استيراد جميع العناصر من أمريكا}

التوافر : متوفر فى المخزون

مستورد من متجر USA

كمية:

بقي1 عنصر فقط في المخزن.

اطلب الآن واحصل عليه حول الخميس, أكتوبر 15

معاملة آمنة

أفضل شركائنا اللوجستيين

Hardcover

كفالة يو كير:

لا شيء

اختر الباقة

اشتر الآن وادفع لاحقاً

شحن
سريع

استرجاع
مجاني^*

تغليف آمن

منتجات أصلية %100

الامتثال لمعيار PCI DSS

حاصل على شهادة ISO 27001

Note: Step Down Voltage Transformer required for using electronics products of أمريكا store (110-120). Recommended power converters اشتري الآن.

تفاصيل المنتج

This Third Edition updates a landmark text with the latest findingsThe Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques.Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including:Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topicsNew problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the materialIn addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter.Plus, two new chapters have been added:Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy.Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge.Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials.An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department.

Publisher	Wiley-IEEE Press
Publication date	June 29, 2015
Edition	3rd
Language	English
Print length	800 pages
ISBN-10	0471739065
ISBN-13	978-0471739067
Item Weight	2.11 pounds (960 grams)
Dimensions	6.4 x 2 x 9.4 inches (16.3 x 5.1 x 23.9 cm)

وصف المنتج

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

هل لديك أي استفسار؟ تحدث معنا

أسئلة العملاء & الإجابات

سؤال: كيف تتسوق Semiconductor Material and Device Characterization عبر الانترنت من يوباى?

إجابه: من السهل التسوق في Semiconductor Material and Device Characterization عبر الإنترنت من يوباي. كل ما عليك فعله هو البحث عن المنتج واختيار طريقة الشحن الخاصة بك أثناء الدفع وسيتم توصيله الى عنوانك
سؤال: هل Semiconductor Material and Device Characterization متوفر للتسوق عبر الإنترنت في UAE؟

إجابه: نعم ، في يوباي UAE هذا المنتج متاح لك للتسوق بسعر مناسب. Semiconductor Material and Device Characterization غير متوفر محليًا ولكن يمكنك الوثوق بنا بخدماتنا للشحن السريع.
سؤال: كم من الوقت يستغرق الحصول على المنتج بعد تقديم الطلب؟

إجابه: يختلف وقت تسليم المنتج الذي طلبته حسب ما طلبته وطريقة الشحن التي اخترتها. يتم ذكر وقت التسليم المقدر أثناء عملية الدفع ، لذا كن مرتاحًا أثناء التسوق.

Semiconductors Editorial Review

"Semiconductor Material and Device Characterization" is a highly recommended reference book for professionals working in the field of semiconductor material and device. It is an incredible resource for engineers and materials scientists in need of a comprehensive guide. The book assumes a working knowledge of semiconductor physics, which is essential for getting the most out of the text. It is well-referenced and provides a thorough explanation of the principles behind various characterization techniques. Additionally, the book includes original references for those seeking more detailed information. Although primarily targeted at lab use, many readers have found this book valuable enough to include it in their personal libraries. Overall, "Semiconductor Material and Device Characterization" is Considered a must-have resource for anyone working in the semiconductor field.

مراجعات العملاء وتقييماتهم

4.6

32 تقييمات العملاء

5 نجمة

86%
4 نجمة

7%
3 نجمة

0%
2 نجمة

0%
1 نجمة

7%

أضف تقييم لهذا المنتج

شارك أفكارك مع عملاء آخرين

إيجابيات

Comprehensive and detailed guide for semiconductor material and device characterization
Well-referenced with explanations of underlying principles
Valuable resource for professionals in the field

سلبيات

Assumes a working knowledge of semiconductor physics, which may be challenging for beginners

تاريخ سعر المنتج

معلومات مهمة

القيود: بالنسبة للمنتجات التي يتم شحنها دولياً، يُرجى ملاحظة أن أي ضمان من الشركة المصنعة قد لا يكون صالحاً؛ قد لا تتوفر خيارات خدمة الشركة المصنعة؛ قد لا تكون أدلة المنتج والتعليمات وتحذيرات السلامة مكتوبة بلغة بلد المقصد؛ قد لا يتم تصميم المنتجات (والمواد المصاحبة لها) وفقاً لمعايير بلد الوجهة والمواصفات ومتطلبات الملصقات؛ وقد لا تتوافق المنتجات مع الجهد الكهربي المستخدم في بلد الوجهة والمعايير الكهربائية الأخرى (تتطلب استخدام محوّل كهربي أو جهاز تحويل إذا كان ذلك مناسباً). المستلم مسؤول عن ضمان إمكانية استيراد المنتج بشكل قانوني إلى بلد الوجهة. عند الطلب من يوباي أو الشركات التابعة لها، يكون المستلم هو المستورد المسجل ويجب أن يلتزم بجميع القوانين واللوائح الخاصة ببلد الوجهة.
ليست كل المنتجات المدرجة على يوباي معروضة للبيع، لأن يوباي هو محرك بحث عالمي. المنتجات تخضع للوائح التصدير / التجارة.

AED 524

~~AED 1080~~

اطلب الآن واحصل عليه حول الخميس, أكتوبر 15

كمية:

بقي1 عنصر فقط في المخزن.

معاملة آمنة

نوفر لك مدفوعات مشفّرة، وحماية متكاملة للمشتري، مع الالتزام بمعايير PCI DSS وشهادة ISO 27001:2022 لضمان أعلى مستويات الأمان في كل عملية شراء.

أفضل شركائنا اللوجستيين

أسرع توصيل عبر الحدود

ضمان Ubuy

تسوّق بثقة مع منتجات أصلية %100، ومدفوعات آمنة متوافقة مع معيار PCI DSS، وحماية بيانات معتمدة وفق ISO 27001، وشحن دولي سريع، وإرجاع مجاني^*، وتغليف آمن لكل طلب.

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)